2.2 低温工作试验

• 试验目的：模拟了系统/部件在电气导通的情况下暴露在低温的环境中，检查低温可能引发的电气故障，例如电解电容器冻结导致容量变化或失效。

• 核心参数：依据 IEC 60068-2-1，5.2，试验Ab 进行。对非散热DUT采用试验Ab，对散热DUT采用试验Ad。试验温度为选定的 Tmin，持续时间 24小时。试验期间DUT处于工作模式3.3或4.3。

• 判定要求：试验期间及结束后，DUT的功能状态应达到 A类（所有功能必须完全符合规范）。

2.3 高温存储试验

• 试验目的：模拟DUT在运输或仓储等不带电状态下暴露于极端高温环境，检验其材料耐热性，例如防止塑料外壳因高温软化、翘曲或老化。

• 核心参数：依据 IEC 60068-2-2 试验Bb 进行。试验温度为 85°C，持续时间为 48小时（除非另有规定）。试验期间DUT处于 工作模式1.1。

• 判定要求：试验后，DUT的功能状态应达到 C类。

2.4 高温工作试验

• 试验目的：模拟DUT在极高环境温度下带电工作，检查高温加速的电气故障，例如半导体器件热退化、连接器接触电阻增大等。

• 核心参数：依据 IEC 60068-2-2 进行。对非热耗散设备采用试验Bb，对热耗散设备采用试验Bd。试验温度为选定的 Tmax，持续时间 96小时。试验期间DUT处于 工作模式3.4（最高性能运行）或 4.4（周期性运行）。

• 判定要求：试验期间及结束后，DUT的功能状态应达到 A类。

术语解释

DUT：Device Under Test，即“被测设备”，指待测试的汽车电子电气部件或系统。

工作模式：标准中定义了多种工作模式，例如：

1.1：设备未连接整车线束、完全断电。

2.1：设备上电但功能未激活，处于休眠待机状态。

3.x：由车载发电机 / 驱动电机供电，整车正常运行，无辅助冷却设备。

4.x：发电机供电 + 配套辅助冷却设备同步运行（2023 版新增，新能源专用）

功能状态分类 (依据ISO 16750-1)：

A类：试验期间、试验结束后，设备所有功能、性能均符合技术规范，工作类试验强制要求。

C类：试验过程中允许功能短暂异常或失效，设备恢复至常温 / 标准工况后可自行恢复正常，仅适用于存储类试验。